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          Eksma 光學平面--光學元件

          簡要描述:Eksma 光學平面--光學元件
          光學平面用于測試和評估其他光學元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會形成干涉圖案,通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成,它們是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學元件的表面比要評估的表面明顯平坦,則將干涉圖樣直接解釋為要評估的表面的輪廓圖是正確的。

          • 產品品牌:Eksma
          • 廠商性質:代理商
          • 更新時間:2021-03-23
          • 訪  問  量:84

          詳細介紹

          品牌其他品牌價格區間面議
          組件類別光學元件應用領域醫療衛生,環保,化工,電子,綜合

          Eksma 光學平面--光學元件


          Eksma 光學平面--光學元件

          光學平面用于測試和評估其他光學元件。我們提供單面光學平面,其參考面的平坦度為λ/ 20 @ 633 nm。

          產品介紹

          Ø參考面的平面度:λ/ 20

          Ø非常適合測試和評估其他光學組件

          光學平面用于測試和評估其他光學元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會形成干涉圖案,通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成,它們是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學元件的表面比要評估的表面明顯平坦,則將干涉圖樣直接解釋為要評估的表面的輪廓圖是正確的。

          如果將平面用于對象的頂部,并且通過平面看到干涉圖案,則在平面的頂表面(不接觸被評估對象的表面)上具有抗反射鍍膜是有利的。

          產品型號

          型號

          直徑D

          厚度T

          230-1208E

          ø 25.4 mm

          8.0 mm

          230-1208M

          ø 25.0 mm

          8.0 mm

          230-1410E

          ø 38.1 mm

          10.0 mm

          230-1410M

          ø 40.0 mm

          10.0 mm

           

          材料

          UV FS

          直徑公差

          +0.00, -0.12 mm

          一表面平整度:

          λ/20 @ 633 nm

          二表面平整度:

          2 λ @ 633 nm

          厚度公差

          ±0.2 mm

           

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